化学分析設備

下記設備は弊社保有設備の一部であり、その他様々な設備を保有しております。

▲SEM：高分解能走査型電子顕微
・断面微細構造観察
・表面微細構造観察
▲EDX：エネルギー分散型X線分析装置
　・微小部分の元素分析

▲蛍光X線顕微鏡
・あらゆる材質の試料が分析可能
・大気中で測定でき前処理の必要がない非破壊分析
・FeやNiなど感度の高い元素でppmレベルから100％まで分析
・ROHS規制物質Pb/Cd/Hg/Cr/Brをppmオーダーで一度に測定可能

▲X線透視装置

▲AFM：原子間力顕微鏡
・微細表面形状解析

▲FT-IR：フーリエ変換赤外分光光度計
・有機物の分析

▲GCMS：ガスクロマトグラフィー質量分析装置
　・有機溶剤成分分析
　・加熱発生ガス分析

▲IC：イオンクロマト分析装置
　・イオンの分離分析

▲μ-ESCA：X線光電子分光分析装置
　・化学結合状態分析
　・絶縁物表面分析
　・HDDでは主に媒体の潤滑膜厚測定

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